Event Pages

EMC-koulutus ti 21.5.2013

Arvoisa yhteistyökumppani

Järjestämme Vaasan ammattikorkeakoulussa laitteen tuotekehitysvaiheen mittauskoulutuksen. Koulutuksessa keskitytään sähkömagneettisten häiriöiden lähikenttämittaamiseen. Koulutus järjestetään yhteistyössä Detectus yrityksen kanssa. Koulutuksen kieli on englanti.

Laitteen tuotekehitysvaiheen lähikenttämittaaminen on tärkeää, koska standardinmukaisessa kaukokenttämittauksessa häiriölähteen paikantaminen piirilevyltä on vaikeaa kuten myös laitekotelon sähkömagneettisen säteilyn vuotokohdan paikantaminen on vaikeaa. Kaukokenttämittauksen jälkeen lähikenttämittauksilla voidaan paikantaa säteilylähteet piirilevyltä ja mahdolliset vuotokohdat laitekotelosta. Koulutuksessa läpikäytävät ilmiöt ovat yleispäteviä eli kaikkiin lähikenttä-antenneihin (lähikenttäprobeihin) voidaan soveltaa samoja mittausperiaatteita. Lisäksi koulutuksessa esiteltävällä lähikenttäskannerilla pystytään toteuttamaan vertailtavia lähikenttämittauksia, jotka auttavat erityisesti prototyyppien säteilynhallinnassa.

Luennoitsijana toimii Detectus AB:n huippuasiantuntija Jan Eriksson Ruotsista. Koulutus on erittäin käytännönläheinen, jolla halutaan maksimoida hyöty elektroniikkasuunnittelijoille ja EMC-testaajille.

Tule kuuntelemaan tärkeitä ja mielenkiintoisia asioita laitteen tuotekehitysvaiheen lähikenttämittaamisesta. Koulutukseen ilmoittautuneille tarjotaan kahvit (lounas on omakustantainen). Koulutuksessa on 20 paikkaa, jotka täytetään kilpavarausperiaatteella.

Tilaisuudessa Vaasan ammattikorkeakoulu Oy tarjoaa kahvit. Seminaari on ilmainen.

Paikka: Tutkimuskeskus Technobothnia, Puuvillakuja 3, 65200 VAASA. (Luokka TF4110)

Ilmoittautumiset (sitovat ilmoittautumiset 13.5.2013 mennessä):

puh. 040 567 2285 (Vaasan ammattikorkeakoulu / Jani Ahvonen)
email: jani.ahvonen@vamk.fi

 

Time

Agenda

Detectus AB

Jan Eriksson

8:00

Registration + Coffee

8:30

CE-marking and EMC-directive


 

Near field emission measurements with near field probes


 

Emission measurements with near field scanners

12:00

Lunch


 

Near field immunity measurements with near field probes

 

Immunity measurements with near field scanners.


 

What is needed for a declaration of conformity


~14:00

End of training